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X射线荧光光谱法快速测定地质样品中的钼
2013-09-08 | 【】【打印】【关闭】                

贺攀红,荣耀,连福龙,孟娟,林正金

(河南省核工业放射性核素检测中心,河南 郑州 450002

摘要:报道了粉末压片-X射线荧光光谱法快速测定地质样品中的钼,采用经验系数法校正了锶、铀等元素对钼的干扰,分段处理校准曲线使测定结果更准确,同时探讨了制样对测定结果的影响。方法精密度好(RSD7.91%,n=11)检出限可达到0.48 μg/g测定过程简单快速,测定结果与化学值吻合,非常适合地质样品的批量化测定。

关键词:X射线荧光光谱;钼;粉末压片;地质样品

E-mail: hepanhong1983@163.com

《分析测试技术与仪器》2012, 18(4):213~216

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评 论
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